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有關(guān)于一維測高儀的使用特點(diǎn)

日期：2025-09-14 12:42
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摘要：
一維測高儀的重點(diǎn)用于優(yōu)點(diǎn)：

1.適合現(xiàn)場及質(zhì)檢室的量檢及抽檢

2.本身具有線形補(bǔ)正，可依現(xiàn)場條件做精度補(bǔ)正，以提高**度，避免條件差別。

3.可提供多種量測，解決一般工具無法量測的問題。

一維測高儀的重點(diǎn)用于參數(shù)表格如下：

型    號
V304+/V304C+/V305/V304C
V604+/V604C+
V1004C
量測范圍
0-300mm
0-600mm
0-1000mm
分辨率
0.01/0.001mm
0.01/0.001mm
0.01/0.001mm
*大可以差別
2.5+(L(mm)/400)μm
2.5+(L(mm)/400)μm
2.5+(L(mm)/400)μm
重復(fù)性
1μm(+/-2S)
1μm(+/-2S)
1μm(+/-2S)